 |
 |
 |
| |
STF－1が各かしめプロセス中の最大値のみを参照して良否判別するのに対して、STF－2ではPCカードにより１kHzでサンプリングしたデータ全体をPCにグラフィック表示して良否判別及び解析。STF－1では1次元的、STF－2では二次元的品質管理方式といえます。 |
|
|
|
|
|
|
|
| |
かしめプロセスの時間変化に対する上下限の品質管理基準カーブを作成し、かしめ運転中は1度でも品質管理基準カーブを逸脱すれば不良品と判定し、PC画面上に表示します。 |
|
|
|
|
|
|
|
| |
画面表示されたサンプリングデータをハードディスクに自動記録。プリントアウトも可能。さらに、エクセルデータとして記録し、後日プロセスの詳細解析可能。新製品の開発、かしめ作業の効率化、メンテナンス時の機器診断、トラブルシューティングとして最適。 |
|
|
|
|
|
|
|
| |
パソコン画面上のストローク及び荷重線図で、拡大縮小機能、カーソル計測機能を使って、かしめプロセスの定量的把握が可能。また、エクセルデータからストロークー荷重線図を作成すれば、変形速度・加工硬化状況、スプリングバック量等の解析も可能。 |
|
|
|
|
|
